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SGW X-4B-显微熔点仪 上海仪电

  • 供应数量:2116
  • 发布日期:2024/5/29
  • 有效日期:2024/11/29
  • 原 产 地:上海仪电
  • 已获点击:2116

产品分类

详细介绍

性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
zui小读数:0.1℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
配双目体视显微镜
光学放大倍数:40X-100X连续可调

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