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当前位置:首页 > 产品中心 > 物理光学仪器 > 熔点仪 > SGW X-4B显微熔点仪 上海仪电
简要描述:应用范围:测定物质的熔点。用于化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
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物理光学仪器
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性能指标熔点测量范围:室温至320℃zui小读数:0.1℃测量重复性:±1℃(在<200℃时)±2℃(在200~300℃时)配双目体视显微镜光学放大倍数:40X-100X连续可调
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