薄层色谱扫描仪计算方程

 

　　用于定量的薄层色谱仪称为薄层色谱扫描仪，或薄层色谱光密度计，用这种仪器对薄层上被分离的物质进行直接定量的方法称薄层色谱扫描法。目前各国生产的薄层色谱仪规格不同，性能各异，但其基本测定原理是一样的，即用一束长宽可以调节的一定波长、一定强度的光照射到薄层斑点上进行整个斑点的扫描，用仪器测量通过斑点或被斑点反射的光束强度的变化从而达到定量的目的。

 

　　但是薄层是由许多细小颗粒组成的半透明物体，光照射到薄层表面，除透射光、反射光外，还有相当多的散射光，因此与光照透明溶液不同，样品量与测得值之间呈非线性关系，特别在高浓度区，这样就给定量工作带来困难，为此有以下三种途径来解决薄层上的定量间题。薄层色谱扫描仪具有线性化器，其工作原量即根据Kubelka-Mimk方程式用电路系统将弯曲的曲线校正为直线，用校正后的直线进行定量。

 

　　a．选取曲线中的直线部分用于定量分析在低浓度范围内，样品量与测得值间可存在线性关系，此法简便，也是在没有线性化功能的薄层色谱仪上常用的方法，但由于线性浓度范围有限。

 

　　b.光照到散射物质表面，光的行为比较复杂，Kubelka及Munk从理论上推导出简化的方程式，现应用于薄层扫描。从实用角度解释光照到薄层上的变化情况。

 

　　c．利用非线性方程定量

 

　　利用计算机先求出非线性方程，然后在测定样品时将测定值输入计算机，由此方程求出样品浓度。根据此原理进行测定，并认为这种方法更为合理，测定值更准确可靠。